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Teve início ontem (14/08) o curso prático de microscopia eletrônica, realizado pela Divisão de Metrologia de Materiais (Dimci/Dimat) do Inmetro, no campus de Xerém. O curso acontecerá entre os dias 14 e 18 de agosto e tem como objetivo capacitar os profissionais do Inmetro, contribuindo para a consolidação do Instituto como polo de conhecimento, com excelência em pesquisa, desenvolvimento científico, tecnológico e de inovação.
O curso conta com a participação de profissionais das diretorias de Metrologia Científica e Tecnologia (Dimci) e de Metrologia Aplicada às Ciências da Vida (Dimav), além da incubadora e de estudantes do Programa de Pós-Graduação do Inmetro. Durante a semana serão abordadas ainda as técnicas de microscopia eletrônica de varredura, microscopia eletrônica de transmissão e feixe de íons localizados.
Primeira aula do curso aconteceu no prédio 6 em Xerém
De acordo com o servidor da Dimat e instrutor do curso, Bráulio Archanjo, a meta é aumentar o uso dos laboratórios de microscopia, que têm caráter multiusuário. “A ideia é treinar nos equipamentos, discutir mais sobre a técnica, para que os pesquisadores possam usar a microscopia em seus projetos”, explicou.
Jorge Trota, servidor da Divisão de Metrologia Mecânica (Dimci/Dimec), já trabalhou com microscopia e diz ter se interessado pelo curso para atualizar o seu conhecimento e utilizá-lo no trabalho de desenvolvimento de material de referência para a área de materiais metálicos, um projeto em parceria entre o Instituto Nacional de Tecnologia (INT), a Puc e o Inmetro. "Já trabalhei com microscopia há 10 anos, mas quero me atualizar para que eu mesmo possa realizar os testes", afirmou.
Alunos também viram na prática o funcionamento em laboratório
Mas nem todos os participantes já tiveram essa experiência anterior. Josemar Vinicius Maisworm, bolsista do Laboratório de Bioengenharia Tecidual (Labio), diz ser novidade para ele o conhecimento na área de microscopia.
Josemar trabalha com avaliação da fototoxicidade de nanopartículas de óxido de zinco, um componente do protetor solar sobre o qual há dúvida, na literatura, quanto à segurança, especialmente por falta de caracterização das nanopartículas. A microscopia pode ser utilizada justamente para essa caracterização. "Vejo a necessidade de me aperfeiçoar para, junto ao operador, ter mais qualidade na imagem da nanopartícula", disse.
Fonte: INMETRO
